Reklama
Reklama
Statystyczne sterowanie procesem SPC z analiza systemów pomiarowych MSA PDF Drukuj Email
08/10/2018 07:07
TQM training

Liczba dni: 
3 dni

KIEDY: Termin proponuje klient

GDZIE:  Siedziba klienta

GRUPA DOCELOWA:
  • osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy,
  • osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC i MSA w przedsiębiorstwie,
  • specjaliści ds. jakości, inżynierowie jakości, technolodzy,
  • osoby odpowiedzialne za jakość dostawców, pracownicy działów współpracujących z klientem,
  • członkowie zespołów realizujących projekty doskonalące, analitycy zajmujący się analizą i przetwarzaniem danych,
  • osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych,
  • pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości.

PROGRAM i ĆWICZENIA:

1. Wprowadzenie.
  • Znaczenie metod statystycznych, w szczególności SPC i MSAwe współczesnych systemach zarządzania jakością i innych kulturach organizacyjnych generujących jakość (ISO 9001:2015, IATF 16949:2016, Six Sigma.
  • Statystyczne narzędzia jakości – krótka charakterystyka, przeznaczenie, normy, przewodniki (IS0/TR 10017).
2. SPC. Zmienność. Podstawowa statystyczna analiza danych (statystyczny opis zmienności).
  • Definicja procesu.
  • Zmienność - redukcja zmienności to poprawa jakości.
  • Przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności, pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą).
  • Techniki rejestrowania i analizy zmienności- statystyczna analiza danych.
  • Statystyczny opis zmienności - wyznaczanie i interpretacja parametrów opisowych (średnia, mediana, rozstęp, ruchomy rozstęp, odchylenie standardowe, skośność, kurtoza itd.), konstrukcja histogramu (dobór liczby przedziałów), rozkład empiryczny a rozkład teoretyczny, rozkład normalny.
  • Przykłady, ćwiczenia.
3. SPC. Zdolność procesu/maszyny.
  • Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu według strategii podstawowej (Cp, Cpk) oraz według ISO/TR 22514-4 (Cp, Cpk, Pp, Ppk).
  • Krótka charakterystyka innych strategii oceny zdolności (AIAG, VDA). Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności maszyny Cm, Cmk (ISO/TR 22514-3).
  • Ocena zdolności procesu/maszyny w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego – metoda percentylowa wraz z wykorzystaniem przybliżonej metody rachunkowej Clementsa (ISO/TR 22414-4).
  • Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej.
  • Przykłady, ćwiczenia.
4. SPC. Karty przebiegu procesu, karty kontrolne jako narzędzia monitorowania i doskonalenia procesu.
  • Karty przebiegu procesu a karty kontrolne.
  • Karty kontrolne Shewharta.
  • Ogólne zasady funkcjonowania kart kontrolnych Shewharta (trzysigmowość karty, metody konstrukcji karty, błędy wnioskowania, dostosowanie karty do procesu).
  • Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (metoda stabilizacyjna tj. na podstawie wstępnych danych z procesu, metoda projektowa tj. na podstawie warunków jakościowych nakładanych na proces) - karta wartości średniej i rozstępu, karta wartości średniej i odchylenia standardowego, karta mediany i rozstępu, karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu).
  • Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie kart kontrolnych dla cech mierzalnych.
  • Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: dobór liczności próbki, częstość próbkowania, metody próbkowania, kryteria identyfikacji rozregulowania procesu (zasady czytania kart kontrolnych) - sygnały, trendy, serie, „obklejanie” linii kontrolnych, „obklejanie” linii centralnej, periodyczność, rola i znaczenie linii ostrzegawczych, testy strefowe itp. – według PN-ISO 8258+AC1, PN-ISO 7870, itd.).
  • Karty kontrolne w przypadku oceny atrybutowej: frakcji jednostek niezgodnych p, liczby jednostek niezgodnych np, liczby niezgodności c, liczby niezgodności na jednostkę u.
  • Przykłady, ćwiczenia.
5. MSA. Podstawowa terminologia i definicje.
  • Pomiar, błąd/niepewność pomiaru, system pomiarowy, proces pomiarowy.
  • Zmienność w przypadku procesu pomiarowego od przyrządu pomiarowego (EV), od operatora (AV), od procesu tj. od części-do-części (PV), zmienność całkowita (TV).
6. MSA. Rozróżnialność, poprawność i precyzja.
  • Objaśnienie pojęć.
  • Rozróżnialność – dyskryminacja, błąd skali, rozróżnialność statystyczna (liczba rozróżnialnych kategorii ndc).
  • Poprawność - błąd systematyczny, liniowość, stabilność.
  • Precyzja - odtwarzalność, powtarzalność, interakcja.
  • Krzywa operacyjno-charakterystyczna systemu pomiarowego.
  • Kryteria oceny zdatności systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
7. MSA. Kwalifikacja systemu pomiarowego ze względu na poprawność.
  • Metody ocena błędu systematycznego, liniowości, stabilności.
  • Przykłady, ćwiczenia.
8. MSA. Kwalifikacja systemu pomiarowego ze względu na precyzję.
  • Metody oceny powtarzalności i odtwarzalności: metoda rozstępu R metodą średniej i rozstępu ARM, metoda analizy wariancji (ANOVA) – możliwy/niemożliwy wielokrotny pomiar na jednej części.
  • Zdolność systemów pomiarowych, wyznaczanie i interpretacja współczynników Cg, Cgk.
  • Krótkie uwagi na temat budżetu niepewności.
  • Przykłady, ćwiczenia.
9. MSA. Kwalifikacja w przypadku oceny alternatywnej (atrybutowej).
  • Ocena zdatności systemów pomiarowych w przypadku oceny alternatywnej - kryteria.
  • Metody kwalifikacji systemu pomiarowego: metoda krótka, metoda długa, metoda analityczna, metoda analizy sygnałów.
  • Metoda długa (R&R dla atrybutów) – skuteczność (effectiveness), przeoczenie (miss), fałszywy alarm (false alarm).
  • Zgodność ocen: operator/operator, operator/wzorzec - wyznaczanie i interpretacja współczynnika kappa Cohena.
  • Przykłady, ćwiczenia.
10. Podsumowanie.
11. SPC, MSA w Internecie.

Ćwiczenia:
  • Statystyczna analiza zbioru danych, wyznaczanie podstawowych parametrów opisowych, interpretacja wyników przeprowadzonych analiz (histogram, reguła trzech odchyleń standardowych).
  • Weryfikacja normalności – graficzny test normalności, przeprowadzenie/interpretacja, inne prostsze sposoby identyfikacji rozkładu normalnego: kształt histogramu, parametry kształtu tj. skośność i kurtoza.
  • Wyznaczanie empirycznej (na podstawie danych) i spodziewanej (na podstawie rozkładu teoretycznego) frakcji realizacji poza granicami/granicą specyfikacji.
  • Obliczanie i interpretacji współczynników zdolności procesu Cp, Cpk – strategia podstawowa.
  • Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk – strategia według ISO/TR 22514-4.
  • Obliczanie i interpretacji współczynników zdolności maszyny Cm, Cmk.
  • Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności w przypadku rozkładów innych od normalnego – metoda percentylowa.
  • Konstrukcja kart kontrolnych wartości średniej i rozstępu oraz pojedynczych wartości i ruchomego rozstępu – metoda stabilizacyjna, metoda projektowa.
  • Wyznaczanie współczynników zdolności Cp, Cpk na podstawie kart kontrolnych skonstruowanych metodą stabilizacyjną.
  • Interpretacja zachowania się procesu ze względu na zmienność – „czytanie” kart kontrolnych (reguły wg ISO 7870 i inne).
  • Konstrukcja i interpretacja kart kontrolnych według oceny alternatywnej: karty p, np, c, u.
  • Wyznaczanie powtarzalności i odtwarzalności systemu pomiarowego metodą rozstępu R – kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
  • Wyznaczanie powtarzalności i odtwarzalności systemu pomiarowego metodą średniej i rozstępuARM – kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
  • Interpretacja wyników oceny powtarzalności i odtwarzalności metodą analizy wariancji ANOVA - kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
  • Porównanie metod ARM oraz ANOVA.
  • Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk, ocena istotności statystycznej błędu systematycznego (bias).
  • Ocena systemu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej – metoda długa, wyznaczenia i interpretacja skuteczności (zgodność własna operatorów, zgodność pomiędzy operatorami, zgodność ze wzorcem, fałszywe alarmy, omyłki).
  • Wyznaczanie i interpretacja współczynnika kappa Cohena.

KORZYŚCI DLA UCZESTNIKA/FIRMY:

Uczestnik nauczy się:
  • Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie narzędzi SPC i MSA.
  • W jaki sposób dokonuje się statystycznej analizy danych pochodzących z procesu.
  • Jakie warunki muszą być spełnione żeby w sposób właściwy stosować i wykorzystać metody SPC i MSA.
  • Praktycznego posługiwania się narzędziami SPC i MSA – dobór narzędzi, zasady rachunkowe i interpretacyjne.
  • Jakie korzyści dostarcza stosowanie SPC i MSA – odniesienie do właściciela procesu, odniesienie do klienta.

Uczestnik dowie się:
  • Jakie są wymagania odnośnie stosowania metod SPC i MSAw kontekście współcześnie stosowanych formalnych oczekiwań – normy serii ISO 9000 (w szczególności ISO 9001:2015), normatywy branżowe (IATF 16949:2016), Six Sigma.
  • Jakie normy ISO i inne dokumenty określają rachunkowy i interpretacyjny sposób wykorzystania narzędzi SPC i MSA.
  • Kiedy, gdzie, przy spełnieniu jakich warunków, wykorzystywać określone narzędzia SPC i MSA.
  • Na co zwracać szczególną uwagę w analizie danych procesowych i kwalifikacji systemów pomiarowych.

CENA ZAWIERA:

  • udział w szkoleniu,
  • materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis,
  • bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych w systemie Biblioteka TQMsoft,
  • certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
  • możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu, które realizowane są poprzez Panel Konsultacyjny,

Więcej informacji na https://tqmsoft.com/pl/szkolenia/statystyczne-sterowanie-procesem-spc-z-analiza-systemow-pomiarowych-msa 

Organizator:
TQMsoft Sp. z o.o. sp.k.
ul. Bociana 22a, 31-231 Kraków
tel: 12 376 00 19
e-mail: Adres poczty elektronicznej jest chroniony przed robotami spamującymi. W przeglądarce musi być włączona obsługa JavaScript, żeby go zobaczyć.